Criterios de búsqueda
Se utilizaron los siguientes criterios en la búsqueda: Autor "Muep, W."| Informazioni | |
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Tìtulo:
Comprobación de equipos topográficos y dispositivos de medida avanzados: una contribución al control de calidad.
Fuente:
Topografía y cartografía
Autores:
Staiger, R. | Muep, W. | Univ. Essen, Essen, Alemania
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